交易价格: 面议
类型: 发明专利
技术成熟度: 正在研发
专利所属地:中国
专利号:201210541828.9
交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股
联系人: 太原理工大学
所在地:山西太原市
一种Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜的方法(专利号201210541828.9),是采用脉冲激光沉积法,将NiO、MgO和Li2CO3粉末球磨混合后,压型并高温烧结,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;再将陶瓷靶材与衬底置入脉冲激光沉积装置,调整靶材与衬底间距,在适当的衬底温度、氧气压强和激光频率下进行生长,后冷却至室温,获得Li掺杂Ni1-xMgxO晶体薄膜。本发明方法所制备的晶体薄膜呈p型电导,具有低电阻率、高透射率、高载流子迁移率和带隙连续可调等优良特性;而且方法简单,实现了实时掺杂,掺杂浓度通过调节生长温度和靶材中Li和Mg的含量来控制,得到的薄膜在透明电子和光电子器件等领域具有广泛的应用前景。
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