交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：200810197696.6
交易方式： 完全转让
联系人： 武汉大学苏州研究院
所在地：江苏苏州市
本发明公开了一种原子力显微镜的精确定位的方法,该方法先通过相差光学显微镜找到待测样品,在相差光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上方,记录样品所在的区域,利用吸附力将薄片吸到样品的基底上,然后将吸附了薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜载物台上,用原子力显微镜扫描具有网格的薄片,逐级缩小扫描范围,将原子力显微镜的探针定位在待测样品对应格子的上方,最后用洗耳球将薄片轻轻吹开,即可下针进行准确的原子力显微镜的观察。本发明操作简单,无需制作任何外用器材,非常快捷地精确定位待扫描的样品。
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