交易价格： 面议
类型： 发明专利
技术成熟度： 正在研发
专利所属地：中国
专利号：200810071894.8
交易方式： 完全转让 许可转让 完全转让
联系人： 厦门大学
所在地：福建厦门市
项目简介：
一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法，涉及一种光学薄膜参数的检测方法。提供仅通过一次计算，即可快速检测的一种单层光学薄膜光学常数和厚度的检测方法。测量透射光谱：利用分光光度计，测量正入射情况下单层光学薄膜的不扣除基底的透射光谱；选取透射率数据：在测量透射光谱上选取透射率数据代入评价函数；反演求解：采用改进模拟退火算法对评价函数进行反演求解；分析结果：通过恢复透射光谱，对算法返回结果进行分析。算法全局性能更优，返回解数量级更小，且回火退火帮助返回多组解，全面了解评价函数情况；可与分光光度计测量软件相结合，直接读取透射率数据进行反演求解，拓宽分光光度计的应用范围，具有潜在商业价值。
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