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[00142925]基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置

交易价格: 面议

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:200910061971

交易方式: 许可转让

联系人: 湖北工业大学

所在地:武汉武汉

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置,属于精密测量技术领域。该装置包括激光器、分光镜、目标反射镜、参考反射镜和四象限接收器,目标反射镜固定在被测物体上。激光调制器对激光器发出的光束进行调制,被调制的光束经分光镜后分为两束,这两束光分别经目标反射镜和参考反射镜反射后再返回分光镜,会聚产生动态干涉条纹,当被测物体绕z轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度将发生变化,当被测物体绕x轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度和方向同时改变。动态干涉条纹用四象限光电接收器接收后转为电信号,该信号经电流-电压转换后采集到计算机中,通过分析条纹宽度和方向的变化量,计算出被测物体绕x轴、z轴的角度变化量。本装置的优点在于采用波长调制法,重复性好、抗干扰能力强,并且结构简单、体积小、精度高,精度可达0.03arcsec。

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