[00134500]采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法

交易价格： 面议

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：201110182014.6

交易方式： 完全转让

联系人：中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

所在地：江苏苏州市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置，包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品；样品置于样品台上，样品内部包括一界面；电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路，第一电流计测量此第一电学回路中的电流；样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路，第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流，探针控制器与导电原子力探针以及样品连接，用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。

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