本发明涉及一种区分碳化硅中贯穿螺型位错和贯穿刃型位错的方法,首先将碳化硅样品清洗并腐蚀,完成腐蚀的样品再次清洗后置于光学显微镜的暗场模式下观测,通过贯穿螺型位错和贯穿刃型位错腐蚀坑呈现的不同光学状态来对其进行区分,得出如下结果:所述光学显微镜100x放大倍数以内,正六边形暗色腐蚀坑为贯穿螺型位错,正六边形亮色腐蚀坑为贯穿刃型位错;所述光学显微镜200x放大倍数以上,正六边形且中心暗边缘亮的腐蚀坑为贯穿螺型位错,正六边形亮色腐蚀坑为贯穿刃型位错。所述方法不仅便于对缺陷观察与计数,更能够得到准确的缺陷密度。