光学投影式三维形貌测量系统

所属分类：先进装备制造产业

所属单位：北京理工大学

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联系方式：0951-6087161/5020588

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成果简介

光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。基于此方法开发研制而成的测量系统可在1分钟内获取测量区域 10cm2-400cm2 内被测物三维形貌，测量分辨率可达到 200um。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装置、高分辨率数字CCD 相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。便携式设计使该套系统可方便应用于车间、厂矿等各种测量环境。

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