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一种装配精度分析方法、装置及系统

所属分类:先进装备制造产业

所属单位:北京理工大学

联系人:-

联系方式:0951-6087161 /5020588

所在地:

成果简介

本发明提供一种装配精度分析方法、装置及系统,涉及机械制造技术领域,该方法包括:根据待装配体的尺寸和公差以及用户设置的装配功能需求,获取装配偏差传递路径;根据用户设置的离散需求,对待装配体的几何表面进行离散处理,获得多个离散点;几何表面为待装配体在装配偏差传递路径上的表面;根据公差和多个离散点,生成待装配体的目标非理想表面模型;根据目标非理想表面模型,获得装配偏差传递路径上对应的多个多面体模型;根据多个多面体模型对应的装配结构,对多面体模型进行运算,获得装配功能要求多面体模型;最终获得装配精度。本发明实现了结合零件的形貌特征和受力变形进行装配精度分析,提高了分析结果的准确性。

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