X射线吸收精细结构XAFS(X-ray absorption fine structure)是同步辐射装置应用最广泛先进物质结构表征技术，涉及物理、化学、材料、能源、环境生物众多学科，XAFS的测试不依赖物质的形态,固液气，晶态非晶态，通过近边XANES与拓展边精细结构EXAFS获得吸收原子周围的几何和电子结构信息，如配位数、键长、化学价态等，是最重要精准局域结构探测方法之一,具有不可替代性。XAFS探测的是芯能级(core level)电子与未占据轨道的信息，而发射谱(XES)则探测芯能级电子空穴与占据轨道的信息,属于高能量分辨X射线荧光光谱，两者具有互补性，XES是除了中子探测技术，区分局域结构临近原子序数配位原子物种与金属高低自旋电子态最精准方法之一。目前依托内蒙古大学能源材料化学研究院与相关企业合作研发已经完成桌面式XAFS/XES先进能谱表征技术谱仪装置开发，该款仪器能够实现5-20keV能量范围浓度低至1%的样品测试，获得接近同步辐射装置实验平台质量的XAFS/XES数据，并已实现批量销售，自2022年以来累计签订销售合同10余套，实现成果转化共计3000多万元，XAFS/XES先进能谱表征技术与装置能够获得原位、服役状态下材料结构与电子态演变规律的精准构效关系认识，从而加速特定需求导向高性能新材料筛选迭代研发,服务于自治区相关能源与新材料研发产业。